光耦參數(shù)測(cè)試儀 JFY3010A光耦測(cè)試儀
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀，是一種專(zhuān)門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用方便,適用電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。
※ 測(cè)量元件類(lèi)型:三極管類(lèi)型4腳 6腳光耦
※ 測(cè)量參數(shù):
光耦參數(shù)測(cè)試儀 JFY3010A光耦測(cè)試儀
參數(shù)指標(biāo)表:
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參數(shù)項(xiàng) |
測(cè)試參數(shù) |
測(cè)試條件設(shè)置 |
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輸入正向壓降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
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耐壓(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
|
傳輸比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
|
飽和壓降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
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