半導體分立器件測試儀型號：CS2935
 
一、產(chǎn)品特點：
測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、工作穩(wěn)定可靠，具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。測試儀由計算機操控，測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀功能）。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術(shù)指標均可達到器件手冊技術(shù)指標及國標要求。
二、測試參數(shù)
1． 二管      
VF、IR、BVR
2．  穩(wěn)壓（齊納）二管   
VF、IR、BV Z
3．  晶體管       Transistor（NPN型/PNP型）
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4．   可控硅整流器（晶閘管）   
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM 
5．  場效應管   
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS


6．  光電耦合器       
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7．三端穩(wěn)壓器
VO、SV、ID、IDV