產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：DZ-LT-1
1、 用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴(yán)格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
2、 設(shè)備組成
2.1、光脈沖發(fā)生裝置
詳情介紹：
高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：DZ-LT-1
1、 用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴(yán)格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
2、 設(shè)備組成
2.1、光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關(guān)斷時間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源
2.2、高頻源
2.2、高頻源
頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。
3、測量范圍
DZ-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ
相關(guān)產(chǎn)品
聯(lián)系人：王汝玄
聯(lián)系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區(qū)興貿(mào)三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網(wǎng)址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
聯(lián)系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區(qū)興貿(mào)三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網(wǎng)址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789