光耦參數(shù)測(cè)試儀
光耦參數(shù)測(cè)試儀
詳細(xì)介紹
光耦參數(shù)測(cè)試儀 參數(shù)指標(biāo)表:
參數(shù)項(xiàng)
測(cè)試參數(shù)
測(cè)試條件設(shè)置
輸入正向壓降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐壓(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
傳輸比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V
IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)
0-2.000V
IF:0-400MA
IC:0-2.00A
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用方便,適用電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。
※ 測(cè)量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦
※ 測(cè)量參數(shù):
光耦參數(shù)測(cè)試儀
輸出漏電流(Iceo)
0-1mA
VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)
0-1mA
VR=4V
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