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光耦參數(shù)測試儀

日期:2025-07-05 00:29
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摘要: 光耦參數(shù)測試儀 光耦參數(shù)測試儀 詳細介紹 ※概述: JFY3010A光耦參數(shù)測試儀,是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測。 ※ 測量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦 ※ 測量參數(shù): 光耦參數(shù)測試儀 參數(shù)指標表: ...

光耦參數(shù)測試儀

光耦參數(shù)測試儀

詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀,是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測。
※             測量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數(shù):

光耦參數(shù)測試儀 參數(shù)指標表:

參數(shù)

測試參數(shù)

測試條件設(shè)置

輸入正向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V
輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V
光耦參數(shù)測試儀